Оборудование
Центр коллективного пользования «Испытательный центр нанотехнологий и перспективных материалов»
ИЦ НПМ развивает комплексный подход к решению задач фундаментальной и прикладной науки. Имеющийся комплекс современного оборудования позволяет получать количественную информацию о химическом и фазовом составе, параметрах кристаллической, электронной и магнитной структуры, механических свойствах, типе и концентрации дефектов. Экспериментальную базу ИЦ НПМ составляют имеющиеся в ИФМ УрО РАН, вновь закупаемые и создаваемые уникальные приборы и установки. ИЦ НПМ проводит работу по метрологическому обеспечению измерительного оборудования и применяемых методик измерений. ИЦ НПМ располагает следующим основным оборудованием:
- просвечивающие электронные микроскопы JEM-200CX, Tecnai G230 Twin, CM-30 SuperTwin, сканирующий электронный микроскоп QUANTA 200;
- магнитометрическая установка (СКВИД-магнитометр) MPMS-XL-5;
- универсальная установка для измерения физических свойств PPMS-9;
- вибрационный магнитометр VSM 7407 VSM;
- установка фирмы Oxford Instruments для исследования гальваномагнитных явлений в сильных магнитных полях и при сверхнизких температурах;
- экспериментальная установка сильных импульсных магнитных полей;
- электронные супермикровесы «Sartorius SE 2»
- установка для исследования механических свойств поверхности на наноуровне NanoTest600;
- испытательная машина Instron;
- рентгеновские дифрактометры ДРОН-6 и ДРОН-3М;
- спектрофотометры UV mini-1240 и СФ-46;
- оптический эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой параллельного действия ICPE-9000,
- установки для получения жидкого гелия LHe18;
- оборудование пробоподготовки;
- установки для механических испытаний;
- прибор синхронного термического анализа STA 449 F3 Jupiter;
- копёр маятниковый ИО 5003-0,3-11;
- микротвердомер Qness Q10A+;
- рентгено-дифракционная установка РДУ «КРОС-3».
![]() |
JEM-200CX («JEOL Ltd», Япония), 1984 г.
Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением. Микроскоп оснащен приставкой для охлаждения непосредственно в колоне микроскопа (in situ).
Основные характеристики:
|
![]() |
Tecnai G2 30 Twin («FEI», Нидерланды), 2005 г.
Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системами сканирования, «GATAN» картирования изображений, спектроскопии потерь энергии электронов «EELS» и энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа. Оснащен комплектом приставок для нагрева, охлаждения, деформации in situ.
Основные характеристики:
|
![]() |
СМ-30 SuperTwin («FEI», Нидерланды), 2004 г.
Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системой сканирования и энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа.
Основные характеристики:
|
![]() |
Ручной шлифовально-полировальный станок (MetaServ 250) с полуавтоматической насадкой (Vector LC 250)
Назначение: Ручное (без насадки Vector LC) и полуавтоматическое (с применением насадки Vector LC) шлифование и полирование образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей, растровой или оптической микроскопии
Возможности:
|
|
Установка для ионного травления (Model 1010 Ion Mill)
Назначение: прецизионное ионное травление и полировка образцов для дальнейшего исследования методом просвечивающей электронной микроскопии.
Возможности:
|
|
Устройство для шлифования ямок (Model 200 Dimpling Grinder)
Назначение: механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования ионного травления.
Возможности:
|
|
Устройство для вырезания образцов (Model 170 Ultrasonic Disk Cutter)
Назначение: ультразвуковая нарезка твердых и хрупких материалов.
Возможности:
|
![]() |
Магнитометрическая установка MPMS-XL-5 (Quantum Design, США) 1996 г.
Прибор предназначен для измерения магнитных характеристик (намагниченности и магнитной восприимчивости) образцов с малыми величинами магнитного момента (слабомагнитных веществ или образцов с малым объемом). Прибор имеет возможность измерения магнитного момента всех типов материалов, а именно монокристаллов, поликристаллических образцов, тонких пленок, порошков и т.д. Измеряется действительная (m’) и мнимая (m’’) компоненты динамической (АС) восприимчивости. Основные характеристики:
Измерения в переменных полях:
|
|
Установка для измерения физических свойств PPMS-9 (Quantum Design, США)
Предназначена для измерений физических свойств, таких как теплоемкость, сопротивление, эффект Холла, магнитный момент, АС восприимчивость. Опции: магнитометр имеет статический и динамический (10 – 10000 Гц) режимы измерения магнитного момента; измерение сопротивления на постоянном и переменном токе и др.
|
![]() |
«NanoTest-600» («Micro Materials Ltd», Великобритания), 2009 г. Установка предназначена для измерений механических свойств на наноуровне. Оборудована автоматизированной трехкоординатной платформой для образца с системой устранения люфта двигателей для обеспечения высокой воспроизводимости позиционирования.
Определяемые механические свойства такие как твердость исследуемого материала, твердость нанесенных покрытий (а также их толщина), модуль упругости, высокотемпературные характеристики материала (до 750 °С).
Основные характеристики:
Узел индентирования:
|
![]() |
Испытательная машина «АИМА-5-2» («ЗИП», Иваново, Россия)
Предназначена для испытаний на ползучесть и длительную прочность на воздухе при температурах до 1000 °С.
Испытательная машина «ZST-2/3» (Германия)
Предназначена для испытаний на ползучесть и длительную прочность на воздухе при температурах до 1200 °С.
|
![]() |
Печи лабораторные «ПМ-1.0-7» (муфельная), «ПКЛ-1.2-12» (камерная) (НПП «Теплоприбор», Россия)
Длительные отжиги на воздухе при температурах до 1000°С (печь ПМ-1.0-7) и до 1200°С. (печь ПКЛ-1.2-12) |
![]() |
Предназначен для измерения микротвердости металлов и сплавов по Виккерсу и Кнупу в рабочем диапазоне нагрузок 0,00025-10 кгс на образцах весом до 50 кг. Основные характеристики:
|
![]() |
Стенд для определения сопротивления коррозионному растрескиванию под напряжением в агрессивных средах |
![]() |
Криотермостат жидкостный
Основные характеристики:
|
![]() |
Предназначен для исследования структуры, текстуры и фазового состава моно- и поликристаллических образцов. Дифрактометр оснащен высокотемпературной и низкотемпературной вакуумными камерами для изучения фазовых переходов. Основные характеристики:
|
![]() |
Предназначен для определения кристаллографической ориентировки (КГО) монокристаллов, определение разориентировки субзерен в монокристаллах, оценки величины остаточных напряжений.
Основные характеристики:
|
![]() |
Предназначен для определения спектрального состава вещества. Имеет три режима работы:
|
![]() |
Вакуумный ИСП-спектрометр с температурно-контролируемой Эшелле оптикой, обеспечивающий качественный и прецизионный количественный анализ без редварительного задания аналитических линий.
Основные характеристики:
Мощное программное обеспечение ICPsolution обеспечивает:
|
|
Предназначена для получения жидкого гелия. Основные характеристики:
|
|
Область решаемых задач: определение температурных интервалов фазовых переходов первого и второго рода; температур плавления, кристаллизации, полиморфного превращения, стеклования, упорядочения; энтальпии переходов; удельной теплоемкости; построение фазовых диаграмм; анализ процессов разложения, горения, окисления, испарения, кинетики реакций, степень кристалличности, определение чистоты материала.
Основные характеристики:
|