Tecnai G² 30 Twin («FEI», Нидерланды), 2005 г. 

Предназначен для исследования атомно-кристаллической и аморфной структуры любых объектов (неорганических, органических, металлических, керамических, биологических) с высоким разрешением вплоть до атомного. Оборудован системами сканирования, «GATAN» картирования изображений, спектроскопии потерь энергии электронов «EELS» и энергодисперсионным спектрометром «EDAX» для элементного анализа. Оснащен комплектом приставок для нагрева, охлаждения, деформации in situ.

• ускоряющее напряжение                                      до 300 кВ
• увеличение                                                          до 1 млн. крат
• разрешение по точкам\ по линиям                        0,20 нм\ 0,14 нм
• разрешение EDAX спектрометра                         160 эВ
• латеральное разрешение элементного анализа   1,6 нм

• ускоряющее напряжение                       до 300 кВ
• увеличение                                           до 750 тыс. крат
• разрешение по точкам                           0,20 нм
• разрешение по линиям                          0,14 нм
• разрешение EDAX спектрометра           160 эВ

Ручной шлифовально-полировальный станок (MetaServ 250) с полуавтоматической насадкой (Vector LC 250)

Назначение: Ручное (без насадки Vector LC) и полуавтоматическое (с применением насадки Vector LC) шлифование и полирование образцов для дальнейшего исследования в просвечивающей, растровой или оптической микроскопии

Возможности:

• Диаметр круга: 10″(254мм).
• Регулируемая скорость вращения круга от 50 до 500 об/мин.
• Встроенный электронный таймер задаёт различную длительность цикла шлифования/полирования с автоматическим отключением вращения круга/воды.
• Скорость подачи воды: 2 л/мин. 
• Полуавтоматическая насадка Vector® LC 250 обеспечивает обработку от одного до четырёх образцов диаметром до 25 мм одновременно с индивидуальным усилием до 50Н на образец.
• Скорость вращения держателя: 60 об/мин. 

Установка для ионного травления (Model 1010 Ion Mill)

Назначение: прецизионное ионное травление и полировка образцов для дальнейшего исследования методом просвечивающей электронной микроскопии.

Возможности:

• Травление осуществляется в атмосфере аргона.
• Диапазон угла травления: от 0° до 45°.
• Диапазон токов ионного источника: 3 – 8 мA.
• Плотность тока: 400 microamps/cm².
• Диапазон напряжений ионного источника 1-6 кВ.

Устройство для шлифования ямок (Model 200 Dimpling Grinder)

Назначение: механическая шлифовка образцов для дальнейшего исследования ионного травления.

Возможности:

• Возможны различные варианты шлифовки: плоское шлифование, вышлифовка ямок, полировка.
• Утонение образца до толщины порядка нескольких микрон. 

Устройство для вырезания образцов (Model 170 Ultrasonic Disk Cutter)

Назначение: ультразвуковая нарезка твердых и хрупких материалов.

Возможности:

• Возможно получение образцов различной формы (диски, стержни, прямоугольные пластины) из заготовок толщиной от 10 микрон до 10 мм.
• Режущими инструментами являются диски диаметром 3,0 мм и 2,3 мм, прямоугольные пластины размерами 2 мм х 3 мм.

Магнитометрическая установка MPMS-XL-5 (Quantum Design, США) 1996 г.

Прибор предназначен для измерения магнитных характеристик (намагниченности и магнитной восприимчивости) образцов с малыми величинами магнитного момента (слабомагнитных веществ или образцов с малым объемом). Прибор имеет возможность измерения магнитного момента всех типов материалов, а именно монокристаллов, поликристаллических образцов, тонких пленок, порошков и т.д. Измеряется действительная (m’) и мнимая (m’’) компоненты динамической (АС) восприимчивости.

• интервал магнитных полей                          до 50 кЭ
• диапазон измерения магнитного момента   10-8 - 300 Гс•см3
• интервал рабочих температур                     от 1,8 до 400 К

• диапазон частот                                         от 0,01 до 1000 Гц
• амплитуда                                                 от 0,01 до 4 Э

Установка для измерения физических свойств PPMS-9  (Quantum Design, США)

Предназначена для измерений физических свойств, таких как теплоемкость, сопротивление, эффект Холла, магнитный момент, АС восприимчивость. 

Опции: магнитометр имеет статический и динамический (10 – 10000  Гц) режимы измерения магнитного момента; измерение сопротивления на постоянном и переменном токе и др.

• Магнитометрия: магнитное поле - до 90 кЭ; температура -  от 1,8 до 350 К.
• Измерения в магнитных полях: частота - от 0,01 до 10000 Гц; амплитуда - до 4 Э; измерение действительной (m’) и мнимой (m’’) компонент динамической (АС) восприимчивости
• Транспортные свойства: ток по образцу - от 0,01 до 5000 мкА; напряжение - от 1 до 95 мВ; температура - от 1,8 до 400 К;
• Теплоемкость: масса образцов ~ 20 мг; температура - от 1,8 до 400 К.

Установка на базе рефриджератора растворения Не³ в Не⁴ («Oxford Instruments», Великобритания), 1998 г.

Предназначена для исследования гальваномагнитных явлений в сильных магнитных полях и при сверхнизких температурах, а также для измерений электропроводности и эффекта Холла в объемных образцах и в гетероструктурах на постоянном и переменном токе.

• магнитное поле                                            до 12 Т
• диапазон измерения магнитного момента    10-8 - 300 Гс•см3
• интервал рабочих температур                       от 1,8 до 400 К

Экспериментальная установка сильных импульсных магнитных полей (создана в 1999 г. силами сотрудников ИФМ).

Установка для измерения намагниченности и ее производных в импульсных магнитных полях до 36 Т (360 кЭ). Возможность измерения намагниченности, ее первой, второй производной по полю.

• максимальная энергия батареи конденсаторов           75 кДж
• максимальное напряжение                                         3 кВ
• соленоид из прочного композитного провода
• длительность импульса                                             8 мс
• интервал температур                                                 (4,2 - 320) К      

Электронные супермикровесы «Sartorius SE 2» («Sartorius», Германия)

Предназначены для высокоточного взвешивания проб.

• дискретность - 0,0001 мг; 
• наибольший предел взвешивания (НПВ) - 2,1 г.; 
• класс точности - I; 
• встроенная калибровка.

«NanoTest-600» («Micro Materials Ltd», Великобритания), 2009 г.

• диапазон перемещения по осям x-y-z                     50x50х50 мм
• разрешение перемещений по осям                          0,05 мкм

• тразрешение в диапазоне нагрузок 0-0,5 Н            <2·10^-8
• глубина проникновения при нагрузке до 0,5 Н         50 мкм
• разрешение по глубине при нагрузке до 0,5 Н         0,001 нм

Универсальная электромеханическая испытательная машина «Instron 5982» (Великобритания), 2010 г.

Предназначена для измерений механических свойств при испытаниях материалов на растяжение, сжатие.

• максимальная нагрузка        100 кН (10тс)
• точность измерения нагрузки  +/- 0,5 % от измеряемой величины в диапазоне           от 400 Н до 100 кН
• скорость испытания              от 0,005 до 500 мм/мин
• диапазон температур            от -150 до +1050 °С
• зона испытания:                   высота 1430 мм, ширина 575 мм
• погрешность измерения деформации 0.5%,
• компьютерная регистрация.

Испытательная машина «АИМА-5-2» («ЗИП», Иваново, Россия)

Предназначена для испытаний на ползучесть и длительную прочность на воздухе при температурах до 1000 °С.

Испытательная машина «ZST-2/3» (Германия)

Предназначена для испытаний на ползучесть и длительную прочность на воздухе при температурах до 1200 °С. 

Печи лабораторные «ПМ-1.0-7» (муфельная), «ПКЛ-1.2-12» (камерная) (НПП «Теплоприбор», Россия)

Длительные отжиги на воздухе при температурах до 1000°С (печь ПМ-1.0-7) и до 1200°С. (печь ПКЛ-1.2-12)

Микротвердомер Qness Q10A+

Предназначен для измерения микротвердости металлов и сплавов по Виккерсу и Кнупу в рабочем диапазоне нагрузок 0,00025-10 кгс на образцах весом до 50 кг.

• диапазон тестовой нагрузки             от 0,00245 до 98,07 Н (0,00025-10 кгс)
• шкалы измерения твердости           Виккерс, Кнуп, Бринелль
• индентор Кнуп может поворачивается вокруг своей оси
• моторизованный стол с перемещением 150х150мм, точность позиционирования 1 мкм
• расстояние от предметного стола до индентора            до 140 мм
• турель - 6-ти позиционная, моторизованная, возможное количество инденторов в турели 3 шт
• объективы с увеличениями               4х, 10х, 20х, 40х, 65х
• измерение диагонали отпечатка             автоматическое/ручное с помощью цифровой камеры 5 Мп
• управление осуществляется с помощью внешнего компьютера и 3D джойстика, установленного на микротвердомере

Копёр маятниковый ИО 5003-0,3-11

• тип копра                          маятниковый
• вид испытаний                 двухопорный ударный изгиб (метод Шарпи)
• номинальные значения потенциальной энергии маятников      150; 300; 400 Дж
• тип привода подъёмного устройства маятника                            пневматический
• скорость движения маятника в момент удара                              5 м/с
• масса испытательной установки                                                    не более 750 кг
• диапазон задаваемых температур                   от -82 до +102 °С (в комплекте с криотермостатом жидкостным)

• диапазон задаваемых температур                   от -82 до +102 °С 
• градиент температуры                     < 0,01°С/см
• потребляемая мощность модуля терморегулирования     < 2200 Вт
• номинальное напряжение питания                                      220 В

•  cпектральный диапазон 167~800нм;
•  обеспечивает определение большинства элементов на уровне 1-10 ppb;
•  диапазон линейности 5-6 порядков.

• быстрый и надёжный качественный анализ с помощью встроенной базы данных длин волн и спектральных влияний для всех элементов с автоматическим выбором длин волн, наименее подверженным спектральным влияниям;
• оценку концентрационных диапазонов определяемых и сопутствующих элементов, автоматический выбор способов коррекции;
• выдачу состава образца для калибровки;
• автоматический выбор одного, наиболее оптимального результата анализа среди данных, полученных при измерениях на разных длинах волн;
• диагностику природы влияний;
• количественный анализ: надёжное определение даже трудноопределяемых элементов в пробах со сложной основой.