Авторы: Э.З. Курмаев, В.М. Черкашенко, Л.Д. Финкельштейн
Информация о издательстве: М.: Наука, 1988. - 175 с.,ISBN 5-02-000713-7

тугоплавкие соединения, сверхпроводники, магнитные полупроводники, металлические стекла, рентгеновские поляризационные спектры, микроанализ высокого разрешения, L -абсорбционная спектроскопия, редкоземельные элементы, физика твердого тела, эмиссионная спектроскопия, фазы Магнели

Монография посвящена применению метода рентгеновской спектроскопии для изучения электронной структуры твердых тел. На основе анализа экспериментальных данных обсуждаются закономерности формирования электронной структуры тугоплавких соединений, сверхпроводников, магнитных полупроводников, металлических стекол. Рассматриваются возможности новых методов - рентгеновских поляризационных спектров, микроанализа высокого разрешения, L -абсорбционной спектроскопии редких земель для анализа химической связи и валентного состояния элементов.

Для специалистов в области спектроскопии и физики твердого тела.