Международная конференция «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017» и Молодежная конференция «Применение зондовой микроскопии в научных исследованиях»

27 января 2017 года

Уважаемые коллеги!

Приглашаем вас принять участие в Международной конференции «Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017» (Scanning Probe Microscopy – 2017) и Молодежной конференции «Применение зондовой микроскопии в научных исследованиях», которые будут проводиться 27-30 августа 2017 г. в Уральском федеральном университете, г. Екатеринбург.

Тематики конференции:

  1. СЗМ в материаловедении
  2. Новые методы СЗМ
  3. СЗМ в биологии и медицине
  4. Аналитические методы СЗМ
  5. Зондовая литография
  6. In situ возможности СЗМ
  7. Обработка данных СЗМ
  8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика

Цель конференции:

Конференция будет посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Будет проведен конкурс работ молодых ученых. Конференция планируется быть первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России.

Официальные языки конференции: русский и английский.

Генеральный спонсор конференции: компания НТ-МДТ.

Труды конференции: планируется опубликовать в реферируемых журналах.

Важные даты:

  • Начало регистрации на сайте: 01 марта 2017 г.
  • Окончание принятия тезисов: 15 апреля 2017 г.

Официальный web-сайт конференции: http://nanocenter.urfu.ru/ru/SPM2017.

Контакты: spm-2017@labfer.ru, тел./факс: (343) 261 74 36

Первое извещение