Scanning Probe Microscopy (SPM-2018)

Уважаемые коллеги! 

Компания NT-MDT Spectrum Instruments рада приветствовать вас на конференции Scanning Probe Microscopy (SPM-2018).

Одно из знаковых мероприятий отрасли, очередная конференция по сканирующей зондовой микроскопии будет проходить с 26 по 29 августа 2018 г. в городе Екатеринбурге на базе Уральского Федерального Университета.

В рамках конференции с докладами выступят наши коллеги: почётный президент д.т.н. Быков Виктор Александрович с двумя пленарными докладами: "Scanning probe methods for studying surface structures – history of development and recent possibilities" и "3D visualizations of solid surfaces properties by Scanning Probe Microscopy and spectroscopy technics" и руководитель отдела R&D к.т.н. Поляков Вячеслав Викторович с докладом "Atomic force microscopy integrated with laser spectroscopy".

Также Вячеслав Поляков расскажет про новые разработки от NT-MDT S.I., которые будут анонсированы в Екатеринбурге. Для нас является особой честью выступать в качестве генерального спонсора мероприятия.

С уважением,
Команда NT-MDT S.I.